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Rectificación del rendimiento de la heterounión basada en nanocintas de α-borofeno con pasivación de bordes

Resumen

Proponemos un modelo de heterounión plano basado en α -nanocintas de borofeno y estudiar sus propiedades de transporte electrónico. Consideramos respectivamente tres tipos de heterouniones. Cada tipo consta de dos bordes en zigzag α -Nanocintas de borofeno (Z α BNR), uno es metálico con bordes no pasivados o pasivados por un átomo de hidrógeno (1H-Z α BNR) y el otro es semiconductor con el borde pasivado por dos átomos de hidrógeno (2H-Z α BNR) o un solo átomo de nitrógeno (N-Z α BNR). Usando los cálculos de los primeros principios combinados con la función de Green de desequilibrio, observamos que el rendimiento de rectificación depende en gran medida de los detalles estructurales atómicos de una unión. Específicamente, la relación de rectificación de la unión casi no cambia cuando su cinta metálica izquierda cambia de ZBNR a 1H-Z α BNR. Sin embargo, su relación aumenta de 120 a 240 cuando el semiconductor derecho varía de 2H-Z α BNR a N-Z α BNR. Este efecto de rectificación se puede explicar microscópicamente por el grado de coincidencia de las bandas electrónicas entre dos partes de una unión. Nuestros hallazgos implican que las heterouniones basadas en borofeno pueden tener aplicaciones potenciales en nano-dispositivos de rectificación.

Introducción

En las últimas décadas, un gran número de materiales bidimensionales (2D), incluidos el grafeno [1, 2], el siliceno [3, 4], los dicalcogenuros de metales de transición (TMD) [5, 6] y el fosforeno [7, 8 ], han sido ampliamente estudiados debido a sus propiedades únicas. Especialmente, estos materiales 2D demuestran algunos comportamientos de transporte electrónico interesantes, como la resistencia al magneto gigante (GMR) [9, 10], la resistencia diferencial negativa (NDR) [11, 12], el filtrado de espín [13, 14] y la rectificación [15 , 16], por lo que tiene aplicaciones potenciales en dispositivos electrónicos a nanoescala. Recientemente, algunos estudios también han demostrado que los materiales 2D tienen amplias perspectivas de aplicación en dispositivos termoeléctricos a nanoescala [17-20]. Posteriormente, la investigación sobre heterouniones laterales basada en materiales 2D se convierte en un tema importante. Y algunos estudios teóricos han demostrado que las heterouniones laterales tienen aplicaciones potenciales en tecnologías de transistores de efecto de campo y semiconductores de óxidos metálicos complementarios [21, 22]. Además, las heterouniones laterales con espesor atómico ya se han preparado en experimentos [23, 24]. Estos logros han inspirado el esfuerzo de explorar más a fondo las heterouniones laterales hechas de materiales 2D más adecuados.

Recientemente, las monocapas de borofeno también han recibido un gran interés [25-28] después del grafeno y el siliceno. Los estudios teóricos predijeron que las láminas de boro monocapa pueden existir de manera estable sobre el sustrato metálico, lo que fue confirmado por las observaciones posteriores [29, 30]. Hasta ahora, se han obtenido varias estructuras de boro 2D mediante crecimiento epitaxial en sustratos de Ag (111), como β 12 -, χ 3 -, δ 6 -borofeno y borofeno en forma de panal [31-34]. Los estudios teóricos señalan que la estabilidad de la hoja de boro se puede incrementar introduciendo un agujero hexagonal [35]. Los cálculos de DFT indicaron que el borofeno con una "densidad de agujeros hexagonales" ( η ) de 1/9, denominado α −borofeno [35, 36], es favorable en términos de energía. Además, el borde en zigzag α -nanocintos de borofeno (Z α BNR) exhibe un comportamiento metálico o semiconductor a través de diferentes modificaciones de los bordes [37]. Por lo tanto, la propiedad de transporte electrónico de las nanoestructuras de borofeno queda por explorar más a fondo, aunque se ha realizado un gran número de estudios sobre las estructuras electrónicas, las propiedades mecánicas y térmicas [25-28].

En este trabajo, investigamos las propiedades de transporte de las heterouniones hechas del borde en zigzag Z α BNR. Construimos tres tipos de uniones laterales de semiconductores de metal en plano. Encontramos que todas las uniones exhiben un comportamiento de rectificación en el régimen de bajo sesgo debido a la presencia de las interfaces en la región de dispersión y la asimetría en los lados izquierdo y derecho. Además, el efecto rectificador de las uniones se vuelve pronunciado con el aumento del número de células primitivas en la parte semiconductora de la unión. Las propiedades de transporte de las uniones dependían en gran medida de las nanocintas semiconductoras de la parte derecha. Este fenómeno se puede atribuir a la banda prohibida cerca del nivel de Fermi de la parte semiconductora. La probabilidad de que los electrones a través de la unión sea menor cuando la banda prohibida aumenta, lo que hace que la corriente de la unión disminuya y la relación de rectificación aumente. En particular, la tasa de rectificación de la unión M10N puede alcanzar alrededor de 240, lo que es comparable a la heterounión previamente estudiada con grafeno como electrodo e indica que tiene aplicaciones potenciales en dispositivos de rectificación [38]. La organización de este documento es la siguiente. En la sección "Modelo y métodos computacionales", describimos los detalles computacionales. En la sección “Resultados y discusión”, presentamos las propiedades de transporte de las uniones propuestas. Finalmente, resumimos nuestros resultados en la sección "Conclusiones".

Modelo y métodos computacionales

Las celdas unitarias de la Z α considerada Los BNR sin o con modificaciones de borde-ápice más exteriores se muestran en la parte superior de la Fig.1, donde (a) para el Z α no pasivado BNR, (b – d) para Z α BNR con los átomos de boro del borde más externo de la célula pasivados por un átomo de hidrógeno (H), dos átomos de H y reemplazados por un átomo de nitrógeno (N), que se denominan 1H-Z α BNR, 2H-Z α BNR y N-Z α BNR, respectivamente. Y sus correspondientes dispersiones de energía electrónica se muestran posteriormente en la parte inferior de la Fig. 1, a partir de la cual podemos identificar la diferencia en la estructura de bandas de las cintas. De la Fig. 1a, varias bandas del intrínseco prístino Z α BNR cruza el nivel de Fermi ( E F ), que presenta propiedades metálicas. Para 1H-Z α BNR, dado que los enlaces parcialmente colgantes están saturados con átomos de H, el número de bandas cerca de E F son menores que los del no pasivado y también presentan un comportamiento metálico. Para 2H-Z α BNR, sin embargo, el E F se mueve al espacio entre las bandas de enlace y antienlace debido a que los enlaces colgantes en el borde están saturados con dos átomos de H. Por lo tanto, 2H-Z α BNR es un semiconductor con un intervalo de banda directo de 0,43 eV en el Γ -punto como se muestra en la Fig. 1c. Mencionamos que nuestros resultados de la estructura de bandas para cintas H-pasivadas aquí concuerdan bien con los cálculos numéricos anteriores [37]. Además, como se muestra en la Fig. 1d, la estructura de bandas de N-Z α BNR indica que es un semiconductor con una banda prohibida indirecta de 1.0 eV. Esto puede deberse a la sustitución de N por B posiciones atómicas en el borde, lo que trae suficientes electrones para llenar las órbitas de enlace.

Las geometrías de la celda unitaria (superior) y las estructuras de banda (inferior) para a Z no pasivado α BNR, b 1H-Z α BNR, c 2H-Z α BNR y d N-Z α BNR, donde el nivel de Fermi se establece en cero, y las esferas rosa, magenta y blanca representan átomos de boro, nitrógeno e hidrógeno, respectivamente

Establecemos tres modelos de heterounión lateral de metal / semiconductor basados ​​en el Z α mencionado anteriormente BNR. Cada unión modelo se divide en tres partes:el electrodo izquierdo, el electrodo derecho y la región de dispersión central. La estructura geométrica de las uniones, como se muestra en la Fig.2, donde el electrodo izquierdo es siempre un semi-infinitivo largo sin pasivado Z α BNR o 1H- Z α BNR, y el electrodo derecho es un 2H o N-Z semiconductor α BNR. Particularmente, sin embargo, las regiones de dispersión centrales de las tres uniones son un Z α Celda unitaria BNR acoplada con n ( n =1, 2, 5, 8, 10) celdas unitarias de 2H-Z α BNR, un 1H-Z α BNR junto con n células de 2H-Z α BNR y una Z α Celda BNR acoplada con n células de N-Z α BNR, respectivamente. Asimismo, en consecuencia, los nombramos como M n H, M ’ n H y M n N uniones, que se muestran en la Fig. 2a – c, respectivamente. Vale la pena señalar que la Fig.2 solo muestra un diagrama esquemático del modelo con n =1 y los otros casos de n se omiten para ahorrar espacio.

Las estructuras geométricas de los tres tipos propuestos de uniones modelo, donde a para M n H, b para M ’ n H y c para M n N, en el que n representa el número de celdas unitarias de la parte semiconductora en la dispersión central. El marco punteado grande (azul) representa la región de dispersión central en la que el pequeño indica la celda unitaria

Los cálculos se realizaron utilizando el paquete de software Atomistix ToolKit (ATK), QuantumWise A / S (www.quantumwise.com), que se basa en la DFT combinada con la función de Green sin equilibrio de Keldysh (NEGF) [39-41]. La función Perdew-Burke-Ernzerhof (PBE) bajo la aproximación de gradiente generalizada (GGA) se utiliza para el potencial de correlación de intercambio. La zona de Borilliouin (BZ) se muestrea utilizando un Monkhorst-Pack k de 1 × 1 × 100 -mesh, y la energía de corte se establece en 150 Ry. Las estructuras geométricas de todas las heterouniones se relajaron hasta que el valor absoluto de la fuerza que actúa sobre cada átomo es menor que 0.01 eV Å −1 . Para evitar interacciones entre imágenes periódicas, la supercélula tiene al menos un espesor de capa de vacío de 15 Å.

La corriente a través de la heterounión bajo un voltaje de polarización V se calcula mediante la fórmula de Landauer-Büttiker [42, 43]

$$ I (V) =2e / h \ int {T (E, V) \ left [f_ {L} (E, V) -f_ {R} (E, V) \ right] dE}, $$

donde h , e y V son respectivamente la constante de Planck, la carga elemental y el voltaje de polarización, y f L / R ( E , V ) es la función de distribución de Fermi-Dirac en el electrodo izquierdo / derecho. El coeficiente de transmisión se calcula mediante

$$ T (E, V) =Tr \ left [\ Gamma_ {L} (E, V) G (E, V) \ Gamma_ {R} (E, V) G ^ {\ dag} (E, V) \ derecha], $$

donde G ( E , V ) y G ( E , V ) denotan la función de Green retardada y avanzada, respectivamente, y Γ L ( Γ R ) es la matriz de acoplamiento entre la región de dispersión central con el electrodo izquierdo (derecho).

Resultados y discusión

La tensión de corriente calculada ( I - V ) curvas de heterouniones M n H, M n H y M n N dentro del rango de polarización de -1.0 a 1.0 V se muestran en la Fig. 3a-c, respectivamente. De estos yo - V curvas, podemos ver claramente que con el incremento del sesgo positivo, la corriente aumenta rápidamente en los tres tipos de uniones. Sin embargo, con el aumento del sesgo negativo, la corriente a través de las uniones aumenta más lentamente. El yo - V Las curvas tienen características obviamente asimétricas bajo todo el sesgo, lo que significa que las uniones tienen un comportamiento de rectificación dentro del rango de sesgo. El efecto de rectificación en la heterounión es causado principalmente por la asimetría de las diferentes nanocintas en los lados izquierdo y derecho y la formación de la interfaz en la región de dispersión central. Para evaluar la fuerza del comportamiento de rectificación, usamos los datos para el I - V curvas para calcular la relación de rectificación (RR), que se define como RR ( V ) =| yo (+ V ) | / | yo (- V ) |, donde I V ) representa la corriente con sesgo positivo y negativo. Los RR calculados de los tres tipos de uniones M n H, M n H y M n N dentro del rango de polarización de 0,1 V −0,5 V se muestran en la Fig. 3d – f, respectivamente. Para el tipo M n H, el RR de M1H es solo 3 a 0.2 V mientras que el de M10H puede alcanzar 115 con el mismo sesgo. Del mismo modo, para el M n Tipo N con sesgo de 0,2 V, el RR de M 1H es 3 y el de M 10H es hasta 90. Además, para M n Tipo N, el RR de M1N es 2 a 0.3 V mientras que el de M10N alcanza hasta 240. Además, mediante una observación cuidadosa en la Fig. 3, encontramos que la magnitud de la corriente y RR se pueden controlar cambiando el tamaño del parte semiconductora de la unión. En concreto, por un lado, la corriente en la unión se reduce a medida que aumenta el número de celdas primitivas de la parte semiconductora. Por otro lado, el RR aumenta significativamente a medida que aumenta el número de células primitivas. Dado que el lado derecho de la heterounión es una nanocinta semiconductora con una banda prohibida, la probabilidad de efecto túnel de electrones decae exponencialmente a medida que aumenta la longitud del semiconductor. Como resultado, en las heterouniones de M n H, M n H y M n N, como n aumenta, RR aumenta significativamente. Este resultado concuerda bien con estudios previos sobre las heterouniones basados ​​en otros materiales 2D [44-46].

El yo - V características y ratios de rectificación para los tres tipos de heterouniones, donde a - c corresponden a I - V curvas para cruces M n H, M n H y M n N ( n =1, 2, 5, 8, 10) dentro del rango de sesgo de (- 1,1) V, respectivamente. El recuadro en c es la I ampliada - V curvas de M n N dentro del rango de sesgo. d - f Las relaciones de rectificación calculadas correspondientemente a partir de I-V datos

Comparando el I - V curvas y RR entre los tres tipos de heterouniones que se muestran en la Fig.3, encontramos que la variación de I - V curvas y RR para M n H y M n H tienen tendencias similares. Sin embargo, los de M n N son significativamente diferentes. Para explicar la diferencia en las propiedades de transporte de los tres tipos de uniones, hemos calculado los espectros de transmisión bajo polarización cero que se muestran en la Fig. 4, donde se acompañan las estructuras de banda del electrodo izquierdo y derecho. A partir de estos espectros de transmisión, se puede ver que todas las uniones tienen un espacio de transmisión cerca del nivel de Fermi, donde usamos la línea de puntos magenta para indicar la posición del espacio. La razón de la existencia de la brecha de transmisión es que la estructura de la banda de energía del electrodo derecho tiene una brecha cerca del nivel de Fermi. Por lo tanto, la estructura de la banda de los electrodos izquierdo y derecho no coincide, lo que hace que el canal de transporte se cierre y los electrones del electrodo izquierdo no puedan alcanzar el electrodo derecho. Este es también el origen físico de la corriente débil en el sesgo bajo. Además, la comparación de la Fig. 4a, by la Fig. 4a, c muestra que los espectros de transmisión de M n H y M n H bajo sesgo cero tiene tendencias similares; sin embargo, las tendencias de M n H y M n N son bastante diferentes. Esto está determinado por el grado de coincidencia de las estructuras de banda de los electrodos izquierdo y derecho cerca del nivel de Fermi. La nanocinta metálica izquierda de la unión M n H cambia de Z α BNR a 1H-Z α BNR en comparación con M n H. El grado de coincidencia entre los electrodos izquierdo y derecho cerca del nivel de Fermi prácticamente no ha cambiado. Sin embargo, para M n N, la nanocinta semiconductora derecha se cambia de 2H-Z α BNR a N-Z α BNR en comparación con M n H. La banda prohibida aumenta de 0,43 eV a 1,0 eV, lo que da como resultado una disminución en el grado de coincidencia de los electrodos izquierdo y derecho cerca del nivel de Fermi. Por lo tanto, las propiedades de transporte de M n H y M n H son casi iguales, mientras que M n H y M n N obviamente son diferentes. Este resultado indica que el cambio de la nanocinta metálica de la parte izquierda tiene un pequeño efecto sobre las propiedades de transporte de la unión; sin embargo, cambiar la nanocinta semiconductora de la parte correcta tiene una gran influencia en ello.

La estructura de la banda del electrodo izquierdo y derecho, donde el nivel de Fermi se establece en cero y las líneas discontinuas magenta indican la banda prohibida del electrodo semiconductor derecho. Los espectros de transmisión con polarización cero para heterouniones a M n H, b M n H y c M n N con n =1 (línea discontinua roja), 5 (línea discontinua azul) y 10 (línea continua verde) se muestran correspondientemente en la parte central de cada figura, respectivamente

Para comprender mejor los detalles del comportamiento de rectificación para las heterouniones, calculamos los espectros de transmisión en varios sesgos determinados, como se muestra en la Fig.5, donde la parte superior / inferior muestra los espectros de transmisión de la unión bajo el sesgo positivo / negativo. De acuerdo con la fórmula de Landauer-Büttiker, sabemos que la corriente en la unión está directamente relacionada con el área integrada del espectro de transmisión dentro de la ventana de polarización [47-49]. A partir del espectro de transmisión que se muestra en la Fig. 5, podemos ver que los tres tipos de modelos tienen una tendencia común. En la ventana de polarización, el área integrada del espectro de transmisión disminuye a medida que aumenta el número de celdas primitivas en la parte semiconductora. Esta es la razón por la que la corriente en la heterounión disminuye con el número de células en la porción del semiconductor aumenta, como se muestra en la Fig. 3. La Figura 5a muestra los espectros de transmisión de las heterouniones M n H a ± 0.3 V.Para M1H, el área integral del espectro de transmisión en la ventana de polarización a 0.3 V es solo ligeramente mayor que - 0.3 V.Por lo tanto, la corriente de 0.3 V es solo ligeramente más alta que - 0.3 V, y el RR es solo 3 con un sesgo de 0.3 V. Sin embargo, para M5H y M10H, el área integral del espectro de transmisión bajo sesgo positivo en la ventana de sesgo es significativamente mayor que bajo sesgo negativo. Esto lleva a que la corriente de M5H y M10H bajo sesgo positivo sea mayor que bajo sesgo negativo, y el RR es mucho mayor que M1H. La Figura 5b muestra los espectros de transmisión de M n H a ± 0,3 V. En la figura, se puede ver que los espectros de transmisión de M n H en la ventana de sesgo son casi iguales a M n H. Por lo tanto, bajo el mismo voltaje de polarización, la corriente y el RR de M n H y M n H son casi iguales [ver Fig. 3b, e]. Los espectros de transmisión de M n N a ± 0,9 V se muestran en la Fig. 5c. Dado que los coeficientes de transmisión en la ventana de polarización son demasiado pequeños, ampliamos los espectros de transmisión en la ventana de polarización y lo adjuntamos como un recuadro en el lado inferior derecho de la Fig. 5c. La tendencia del espectro de transmisión M1N en la ventana de polarización es similar a la de M1H y M 1H. Por tanto, el RR de M1N también es pequeño. Para M5N y M10N, el área integral del espectro de transmisión bajo sesgo positivo en la ventana de sesgo es mucho mayor que el área bajo sesgo negativo. Por lo tanto, en comparación con M1N, las características asimétricas de estos I - V las curvas son más obvias. Esto implica que tienen una gran relación de rectificación. Cabe mencionar que el RR de M10N puede llegar a 240, que es el mejor entre los tres tipos de heterounión.

Los espectros de transmisión para heterouniones a M n H con un sesgo de ± 0,3 V, b M n H con un sesgo de ± 0,3 V y c M n N con un sesgo de ± 0,9 V con la misma elección de n en colores de línea para la Fig. 4, donde en cada figura la parte superior / inferior para la transmisión en el sesgo positivo / negativo. Las dos líneas continuas verticales (magenta) indican la ventana de sesgo. El recuadro en la Fig. 5c es una amplificación de los espectros de transmisión en la ventana de polarización

Para explicar de manera más intuitiva el espectro de transmisión en la Fig.5, mostramos el estado propio de transmisión de M5H y M 5H en V =0,3 V, E =- 0,15 eV y V =- 0,3 V, E =0.15 eV en la Fig. 6a yb, respectivamente. Y el estado propio de transmisión de M5N en V =0,9 V, E =- 0,45 eV y V =- 0,9 V, E =0,45 eV se muestran en la Fig. 6c [15, 16, 49]. El análisis del estado propio de transmisión se puede obtener combinando linealmente los estados de Bloch en propagación \ (\ sum _ {m} C_ {a, m} \ psi _ {m} \). La C a , m puede derivarse de la diagonalización de la matriz de transmisión, es decir, \ ({\ sum \ nolimits} _ {n} T_ {mn} C_ {a, n} \) = λ a C a , m , donde λ a es el valor propio de transmisión. Como puede verse en la Fig.6, para todas las heterouniones, el estado propio de transmisión bajo sesgo negativo se ubica en la parte metálica (Z α no pasivado BNR y 1H-Z α BNR). En caso de sesgo positivo, el estado propio de transmisión se localiza principalmente en la parte izquierda. Sin embargo, forma un canal de transmisión en la heterounión. Los electrones se pueden transferir del electrodo izquierdo al electrodo derecho. Por lo tanto, en la ventana de sesgo, el coeficiente de transmisión bajo sesgo positivo es mayor que el bajo sesgo negativo. Comparando la Fig. 6a con b, se puede ver que el estado propio de transmisión de M 5H y M5H son solo ligeramente diferentes. Así, las heterouniones M 5H y M5H tienen casi los mismos coeficientes de transmisión en la ventana de polarización. Además, para M5N, dado que la banda prohibida de la parte semiconductora aumenta, lo que resulta en una dispersión electrónica más dramática en la heterounión. Por lo tanto, solo algunos de los estados propios de transmisión pueden transmitirse al lado derecho. Esto llevó al coeficiente de transmisión de M n N en la ventana de sesgo es menor que el de los otros dos tipos de heterounión. Mientras tanto, con el mismo sesgo, la corriente de M n N es el más pequeño de los tres tipos de heterouniones.

Los estados propios de transmisión para la heterounión a M5H en polarización:0,3 V con E =0,15 eV (superior) y con polarización 0,3 V con E =- 0,15 eV (inferior), b M 5H a - 0,3 V con E =0,15 V y a 0,3 V con E =- 0,15 eV y c M5N con sesgo =- 0,9 V con E =0,45 eV y a 0,9 V con E =- 0,45 eV, respectivamente. Los isovalores se fijan en 0,2 Å −3 e V −1 para todos los estados propios

Finalmente, con el fin de seguir explorando el efecto de las nanocintas izquierda y derecha sobre las propiedades de transporte con heterouniones, la Fig. 7 muestra la densidad proyectada de estados (PDOS) de los tres tipos de heterouniones. En la Fig. 7a, se puede ver que los espectros PDOS aportados por los electrodos izquierdos (Z no pasivado α BNR) de las uniones M1H, M5H y M10H con superposición cerca del nivel de Fermi. Esto indica que el PDOS contribuido por el electrodo izquierdo apenas se ve afectado por la extensión de la nanocinta semiconductora (2H-Z α BNR) en la región de dispersión central. Sin embargo, los espectros PDOS aportados por el electrodo derecho (2H-Z α BNR) tiene una brecha cerca del nivel de Fermi. Esto es causado por una banda prohibida cerca del nivel de Fermi del electrodo derecho [ver Fig. 3c]. Afectado por la extensión de la región de dispersión intermedia 2H-Z α BNR, los espectros PDOS aportados por los electrodos derechos de las uniones M1H, M5H y M10H difieren mucho entre sí en el rango de energía fuera de la banda prohibida. Dado que no hay una diferencia esencial entre los dos electrodos para la heterounión M n H y M n H, el electrodo derecho es el mismo y el electrodo izquierdo es una cinta metálica. Entonces, el PDOS de M n H y M n H son casi iguales cerca del nivel de Fermi, como se muestra en la Fig. 7a, b. Ésta es una de las razones por las que el espectro de transmisión, I - V curvas y RR de M n H y M n H son similares con un sesgo bajo [véanse las Figs. 3 y 5]. En la Fig. 7c, presentamos el PDOS del M n N. Debido al aumento de la banda prohibida de la parte semiconductora en la heterounión, el efecto del electrodo izquierdo sobre las propiedades de transmisión se hace menor. Por lo tanto, los PDOS se superponen entre sí dentro de un rango de energía más grande cerca del nivel de Fermi. El espectro PDOS contribuido por el electrodo derecho existe una brecha en el rango de energía de (- 0.5, 0.5) eV. Son consistentes con la posición de la brecha con la estructura de la banda N -ZBNR. A partir del PDOS, podemos concluir que el electrodo metálico del lado izquierdo tiene poco efecto sobre las propiedades de transporte de la región de dispersión intermedia. Sin embargo, el electrodo de la parte semiconductora de la derecha es fundamental para las propiedades de transporte de la región de dispersión intermedia.

La densidad proyectada de estados (PDOS) del electrodo ZBNR no pasivado izquierdo (superior) y el electrodo derecho (1H-Z α BNR, 2H −ZBNR o N-Z α BNR) (inferior) para a M n H, b M n H y c M n N con la misma opción de n en colores de línea para la Fig. 5, respectivamente

Conclusiones

En resumen, hemos estudiado las propiedades de transporte de α −borofeno basado en heterouniones de tres tipos. Encontramos que los tres tipos de heterouniones exhiben un comportamiento de rectificación, entre los cuales la relación de rectificación de la heterounión Z α BNR / N-Z α BNR puede alcanzar hasta 240. Además, a medida que aumenta el número de celdas unitarias en la parte central del semiconductor, el efecto de la rectificación se vuelve más evidente. El origen del comportamiento de rectificación se revela y discute analizando los espectros de transmisión y los estados propios bajo sesgo positivo / negativo. El comportamiento de rectificación de las heterouniones depende en gran medida del valor de la banda prohibida de las nanocintas en la parte semiconductora. Esta conclusión se confirmó aún más mediante el análisis de PDOS aportado por los electrodos izquierdo y derecho. Nuestros resultados brindan nuevas líneas para el diseño de rectificadores de dispositivos electrónicos.

Disponibilidad de datos y materiales

El diseño de nanouniones y los cálculos computacionales fueron realizados por ATK.

Abreviaturas

2D:

Bidimensional

TMD:

Dicalcogenuros de metales de transición

GMR:

Resistencia magneto gigante

NDR:

Resistencia diferencial negativa

DFT:

Teoría funcional de la densidad

Z α BNR:

Borde en zigzag α -Nanocintas de borofeno

H:

Átomo de hidrógeno

N:

Átomo de nitrógeno

1H-Z α BNR:

El Z α BNR con el borde pasivado por un hidrógeno

2H-Z α BNR:

Los Z αBNR con el borde pasivado por dos átomos de hidrógeno

N-Z α BNR:

El Z α BNR con los átomos de boro del borde reemplazados por un átomo de nitrógeno

E F :

Nivel Fermi

ATK:

Kit de herramientas Atomistix

NEGF:

La función de Green sin equilibrio de Keldysh

PBE:

Perdew-Burke-Ernzerhof

GGA:

Aproximación de gradiente generalizada

BZ:

Zona de Borilliouin

I - V curvas:

Curvas de tensión de corriente

RR:

Relación de rectificación

PDOS:

Densidad proyectada de estados


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