Herramienta avanzada de fotoemisión UV detecta contaminantes superficiales para unión aeroespacial fiable
NASA Langley desarrolló un instrumento para medir bajos niveles de contaminación en superficies curvas o de forma irregular. El instrumento ofrece capacidades únicas como la capacidad de identificar y cuantificar contaminación y analizar múltiples superficies simultáneamente. Esta información proporciona un análisis de limpieza superficial necesario para uniones adhesivas más fiables en aplicaciones como aeronaves ligeras.
El instrumento dirige radiación ultravioleta (UV) sobre una superficie, produciendo una pequeña corriente eléctrica. El instrumento mide esa corriente a medida que cambia en un corto intervalo de tiempo. Analizando la corriente, se puede determinar el nivel de contaminación en la superficie y la identificación de las especies contaminantes.
NASA busca activamente licenciatarios para comercializar esta tecnología. Por favor contacte al Concierge de Licencias de NASA en Esta dirección de correo electrónico está siendo protegida contra los robots de spam. Necesita tener JavaScript habilitado para poder verla. o llámenos al 202-358-7432 para iniciar conversaciones de licenciamiento. Siga este enlace aquí para más información.
Sensor
- El Saxofón: Historia, Diseño y Fabricación Moderna
- La Tuba: De la Innovación del XIX a la Artesanía Moderna
- El Dulcémele: Historia, Diseño y Artesanía de un Instrumento Atemporal
- Análisis Avanzado de Formas de Onda con Winscope: Del Dominio Temporal al Dominio Frecuencial
- Configuración de análisis AC: Curvas, puntos y barrido de frecuencia
- Análisis de Fallas de Componentes: Técnicas de Diagnóstico para Circuitos Serie y Paralelo
- Comprender la tolerancia de planicidad en GD&T: Garantizar la fabricación precisa de piezas
- GD&T explicado: Perfil de una línea vs. Perfil de una superficie
- Cómo Elegir los Mandos de Instrumentos Adecuados para su Equipo
- Termografía de Profundidad: Medición Precisa de Temperatura Interna para Materiales 3D
- Dominando la Óptica Paralela Delgada: Superar los Escollos de Medición con Precisión