Hyperstone presenta tecnología FlashXE, mejorando la fiabilidad de 3D NAND

Hyperstone ha introducido FlashXE eXtended Endurance junto a su último controlador SSD X1 de bajo consumo. FlashXE es un conjunto integral de características diseñado para asegurar máxima fiabilidad de almacenamiento basado en NAND flash, combinando calibración avanzada, recuperación de corrección de errores, evitación proactiva de errores y mecanismos de refresco.

Desafíos del 3D NAND

A medida que aumentan densidades de NAND flash y el 3D NAND se vuelve norma industrial, el coste por gigabyte cae mientras las demandas técnicas de gestión de flash crecen exponencialmente. El flash moderno requiere algoritmos sofisticados para gestionar desgaste, mitigar corrupción de datos y mantener integridad de datos durante la vida del producto.

FlashXE: enfoque holístico

FlashXE aborda estos desafíos desde el inicio. Un riguroso proceso de cualificación caracteriza cada tipo de flash soportado a lo largo de su ciclo de vida y rangos de temperatura. Los datos resultantes se embeben en el firmware del controlador, proveyendo base sólida para fiabilidad a largo plazo.

Durante operación, el controlador ajusta continuamente niveles de voltaje de lectura para adaptarse a celdas flash envejecidas. También implementa refresco dinámico de datos, ECC near‑miss y mitigación de read‑disturb para prevenir errores antes de que surjan.

Corrección de errores de dos niveles

Cuando ocurren errores, FlashXE despliega un sistema de corrección de dos niveles. Un nivel usa código BCH tradicional, mientras el segundo aprovecha un nuevo código concatenado generalizado que soporta soft decoding para mayor resiliencia.

FlashXE está totalmente integrado en el controlador X1 de Hyperstone, una solución SSD de bajo consumo diseñada para aplicaciones NAND flash industriales robustas.