Nuevas soluciones de prueba fortalecen la seguridad IoT para despliegues más rápidos y seguros

Las crecientes amenazas cibernéticas a la infraestructura por actores hostiles impulsan el desarrollo de herramientas avanzadas de prueba de seguridad para software y hardware IoT.

Estas innovaciones ayudan a desarrolladores de sistemas embebidos a cumplir los nuevos estándares de seguridad emitidos por la Casa Blanca en respuesta a recientes ciberataques de alto perfil.

En el lado del software, una nueva prueba de seguridad de aplicaciones entrega código matemáticamente probado libre de errores para sistemas embebidos. El Analyzer de TrustInSoft transforma código fuente C/C++ en un gemelo matemático, permitiendo verificación exhaustiva en todas las entradas posibles. Este enfoque garantiza la ausencia de errores en el código fuente antes de que el dispositivo llegue a producción.

Figura 1: Analyzer automatiza métodos formales para proporcionar una vista sintética de errores en código fuente. Fuente: TrustInSoft

Los métodos tradicionales de análisis estático y dinámico duplican pruebas para cada proceso, ralentizando el despliegue de diseño IoT. La nueva prueba IoT embebida, impulsada por el Analyzer de TrustInSoft, combina el rigor del análisis estático y dinámico en una sola pasada rápida que verifica la ausencia de comportamiento indefinido en código C/C++.

TrustInSoft reporta que la herramienta puede reducir el tiempo de despliegue de dispositivos hasta 40x y el tiempo de verificación de código hasta 4x. Fabrice Derepas, fundador y CEO, señala que un error post-lanzamiento puede costar hasta 640x más que uno descubierto durante desarrollo. «La vida nunca está libre de errores, pero tu código fuente puede estarlo», dice.

En el lado del hardware, Arm ha lanzado el chip de prueba Musca-S1 y placa de desarrollo para IoT, una colaboración con Samsung Foundry, Cadence y la firma de servicios de diseño IC Sondrel. La plataforma usa un chip de Memoria de Acceso Aleatorio MagnetoResistiva embebida (eMRAM) de silicio sobre aislante totalmente agotado (FD-SOI) de 28 nm, ofreciendo ventajas sobre memoria flash embebida tradicional y permitiendo escalado por debajo del nodo de proceso de 40 nm.

Figura 2: La plataforma de prueba de seguridad embebida Musca-S1 da a diseñadores de chips IoT más opciones. Fuente: Arm

Al integrar estas soluciones de prueba de software y hardware, los desarrolladores IoT pueden prototipar seguridad extremo a extremo, acelerar time-to-market y cumplir con directrices esenciales de ciberseguridad.

>> Este artículo se publicó originalmente en nuestro sitio hermano, EDN.