Optimización de la medición de N-Port:VNA multipuerto frente a matrices de conmutador
Muchos ingenieros confían en matrices de conmutadores externos para ampliar los VNA de 2 puertos para mediciones multicanal, pero este enfoque conlleva desventajas en cuanto a velocidad, precisión y complejidad del sistema. Comprender cuándo estas compensaciones son importantes es fundamental a medida que los sistemas digitales de alta velocidad y RF continúan escalando.
Este seminario web de 60 minutos proporciona una comparación clara y práctica entre arquitecturas de medición VNA conmutadas de 2 puertos y multipuerto real. Los asistentes aprenderán cómo el recuento de barrido, la pérdida de inserción, el aislamiento y la complejidad de la calibración difieren entre los enfoques y cómo esas diferencias afectan los resultados del mundo real. Al examinar casos de uso representativos, incluidos conjuntos de cables, matrices de formación de haces y pruebas de producción de dispositivos multicanal, la sesión ayudará a los ingenieros y equipos de pruebas a seleccionar la estrategia más adecuada para sus objetivos de medición.
Los temas clave incluyen:
- Limitaciones de los sistemas conmutados de 2 puertos
- Cómo se realizan las verdaderas mediciones del puerto N
- Estrategias de calibración para grandes recuentos de puertos
- Implicaciones de las pruebas de ingeniería y producción
Una sesión de preguntas y respuestas de la audiencia seguirá a la presentación técnica.
Oradores:
Brian Walker, ingeniero senior de RF, Copper Mountain Technologies
Brian Walker es ingeniero senior de RF, PYME, en Copper Mountain Technologies. Ayuda a los clientes a resolver problemas técnicos y desarrolla nuevas soluciones para aplicaciones VNA en prueba y medición. Brian tiene 40 años de experiencia en diseño de RF. Anteriormente fue Gerente de Diseño de RF en Bird Electronics, donde dirigió un equipo de diseñadores de RF y creó productos nuevos e innovadores. Antes de eso, trabajó para Motorola Component Products Group y fue responsable del diseño de filtros cerámicos de línea de peine para dispositivos de comunicaciones. Brian tiene un título de la Universidad de Nuevo México y es miembro senior del IEEE, autor de tres patentes estadounidenses.
Moderador:
Amanda Hosey, editora, SAE Media Group
Sensor
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