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Optimización de Medición N-Puertos: VNAs Multi-puerto vs. Matrices de Conmutación

Muchos ingenieros dependen de matrices de conmutación externas para extender VNAs de 2 puertos para mediciones multi-canal —pero este enfoque conlleva compensaciones en velocidad, precisión y complejidad del sistema. Entender cuándo importan estas compensaciones es crítico a medida que los sistemas RF y digitales de alta velocidad continúan escalando.

Este seminario web de 60 minutos proporciona una comparación clara y práctica entre arquitecturas de medición VNA de 2 puertos conmutados y verdaderamente multi-puerto. Los asistentes aprenderán cómo el conteo de barridos, pérdida de inserción, aislamiento y complejidad de calibración difieren entre enfoques y cómo esas diferencias afectan resultados del mundo real. Al examinar casos de uso representativos —incluyendo ensamblajes de cables, arrays de conformación de haz y prueba de producción de dispositivos multi-canal— la sesión ayudará a ingenieros y equipos de prueba a seleccionar la estrategia más apropiada para sus objetivos de medición.

Temas Clave

Una sesión de preguntas y respuestas del público seguirá a la presentación técnica.

Ponentes:

Brian Walker, Ingeniero RF Senior, Copper Mountain Technologies

Brian Walker es el Ingeniero RF Senior, SME, en Copper Mountain Technologies. Ayuda a los clientes a resolver problemas técnicos y desarrolla nuevas soluciones para aplicaciones de VNA en prueba y medición. Brian tiene 40 años de experiencia en Diseño RF. Previamente fue Gerente de Diseño RF en Bird Electronics, donde dirigió un equipo de diseñadores RF y creó productos nuevos e innovadores. Antes de eso, trabajó para el Grupo de Productos de Componentes de Motorola y fue responsable del diseño de filtros de línea de peine cerámicos para dispositivos de comunicaciones. Brian tiene un título de la Universidad de Nuevo México y es miembro senior de IEEE, autor de tres patentes estadounidenses.

Moderador:

Amanda Hosey, Editora, SAE Media Group

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