Manufactura industrial
Internet industrial de las cosas | Materiales industriales | Mantenimiento y reparación de equipos | Programación industrial |
home  MfgRobots >> Manufactura industrial >  >> Industrial Internet of Things >> Sensor

La NASA Avanza en Termografía Flash: END Más Rápida y Profunda con Técnicas Transitorias y Lock-In

Investigadores del Centro Johnson de la NASA mejoraron sus capacidades de termografía flash incorporando termografía transitoria y lock-in a su tecnología de termografía flash END. Esta tecnología de evaluación no destructiva (END) identifica fallas en materiales usados en aviones, drones y edificios.

Al agregar el método de termografía transitoria, que detecta fallas en piezas más gruesas más rápido que otros métodos, y el método de termografía lock-in, que usa un ciclo de potencia sinusoidal para proporcionar una mejor resolución de fallas, el conjunto de tecnología de termografía flash END ha expandido su aplicabilidad a otras técnicas comúnmente usadas de termografía infrarroja.

Al usar los métodos transitorios y lock-in para evaluar materiales, las variaciones en la difusividad térmica del material se manifiestan como anomalías en la imagen infrarroja (IR) de la superficie de prueba. Ambos métodos se usan específicamente para analizar material más grueso de lo posible con la termografía flash sola. El post-procesamiento de estos datos brutos de cámara IR proporciona análisis detallado del tamaño y caracterización de anomalías.

Esta tecnología incluye un software que ofrece mediciones altamente precisas.

Los perfiles de contraste máximo y tiempo de contraste máximo generados a través de esta herramienta proporcionan interpretación cuantitativa de las imágenes, incluyendo información detallada sobre el tamaño y forma de las anomalías. Los perfiles de energía de persistencia y tiempo de persistencia proporcionan datos altamente sensibles para anomalías detectadas. Las mediciones de contraste máximo, tiempo máximo, tiempo de persistencia y energía de persistencia también permiten monitorear el crecimiento de fallas y análisis de respuesta de señal al tamaño de la falla.

Esta tecnología proporciona una detección y caracterización END más completa, detallada y precisa de defectos subsuperficiales en materiales compuestos no metálicos que los métodos actuales. Este conjunto completo de software normaliza y calibra los datos, lo que proporciona mediciones más estables y reduce la ocurrencia de errores debido a la variabilidad del operador y la cámara.

La NASA está buscando activamente licenciatarios para comercializar esta tecnología. Por favor contacte al Concierge de Licencias de la NASA en Esta dirección de correo electrónico está siendo protegida contra los robots de spam. Necesita tener JavaScript habilitado para poder verla. o llámenos al 202-358-7432 para iniciar conversaciones de licenciamiento. Siga este enlace aquí  para más información.


Sensor

  1. Construya un sensor de temperatura remoto con Raspberry Pi y Python – Guía paso a paso
  2. Revolucionando el almacenamiento de datos: nanoestructuras magnéticas de nueva generación con capas de invisibilidad
  3. Estructuras vs Clases en C++: Guía práctica para desarrolladores embebidos
  4. Semaforos en Nucleus RTOS: Servicios de utilidad y estructuras de datos
  5. Aprovechando la energía solar interior para dispositivos inteligentes
  6. Arrays de fase óptica on-chip para longitudes de onda infrarrojo cercano y azul: dirección de haz compacta
  7. Revolucionando la IA: Piel Electrónica Psicosensorial Avanzada para Robótica Humanoide
  8. Expandiendo horizontes cloud: Nuevas zonas, contenedores y estrategias multicloud
  9. Los gigantes de la nube invierten 31.500 millones en infraestructura y pivotan a servicios rentables
  10. Por qué Cloud Linux impulsa seguridad, estabilidad y rendimiento en hosting compartido
  11. Fundamentos de C#: Entrada y salida esenciales