Muestreo por atributos: Control de calidad estadístico para aceptación de lotes

Concepto y propósito

El muestreo por atributos (attribute sampling) es una técnica de inspección estadística donde cada unidad de la muestra se clasifica como conforme (aceptable) o no conforme (defectuosa). No mide variable continua (longitud, peso), solo cuenta defectos. Objetivo: decidir aceptar o rechazar un lote basándose en el número de defectuosos encontrados en la muestra.

Parámetros del plan de muestreo (ISO 2859 / ANSI/ASQ Z1.4)

• Tamaño del lote (N): Unidades presentadas para inspección.
• Nivel de calidad de aceptación (AQL): % máximo defectuoso considerado aceptable como media del proceso (ej. 0.65%, 1.0%, 2.5%).
• Nivel de inspección: I (reducido), II (normal), III (apretado). Determina tamaño muestra.
• Tamaño de muestra (n): Unidades a inspeccionar (tabla según N e inspección).
• Número de aceptación (Ac) y rechazo (Re): Si defectuosos ≤ Ac → aceptar; ≥ Re → rechazar.
• Tipos de defectos: Críticos (seguridad/regulatorio), Mayores (función/estética), Menores (cosméticos). AQL distintos por tipo.

Procedimiento

1. Seleccionar muestra aleatoria representativa (muestreo aleatorio simple o sistemático).
2. Inspeccionar cada unidad según criterios definidos (lista de chequeo, gauges, visual).
3. Contar defectuosos totales (o por tipo).
4. Comparar con Ac/Re → Decisión: Aceptar / Rechazar / Inspección 100% (screening) si Re superado.

Ventajas

• Rápido, económico vs. inspección 100%.
• Base estadística conocida: Riesgo del productor (α ≈ 5% rechazar lote bueno) y del consumidor (β ≈ 10% aceptar lote malo en AQL).
• Estándar internacional reconocido (ISO 2859, Z1.4, MIL-STD-105E histórico).
• Fácil de implementar, auditar, automatizar (visión artificial).

Limitaciones y riesgos

• Riesgo de aceptar lote con "bolsas" de defectos no muestreados (cluster defects).
• No detecta tendencias de deriva del proceso (para eso: SPC / control estadístico de proceso).
• Insensible a gravedad variable dentro de "defectuoso" (binario).
• Coste de inspección 100% tras rechazo (screening) puede ser alto.

Estrategias de mitigación

• Muestreo en cascada: Atributos → si supera umbral → variables (medición) → 100%.
• Muestreo por variables (ISO 3951): Mide característica continua → más información / menor n.
• C=0 (Zero Acceptance Number): Planes con Ac=0 para defectos críticos (médico, aero, auto seguridad).
• Integración SPC: Muestreo aceptación + cartas control en proceso = sistema completo.
• Skip-lot / Reduced inspection: Historial bueno → inspección reducida (ISO 2859-2).

Aplicación en sectores

• Automoción (IATF 16949): AQL 0/1/2.5 según criticidad. PPAP requiere datos capacidad (Cpk) + muestreo recepción.
• Médico (ISO 13485, FDA 21 CFR 820): Validación proceso + muestreo atributos para lote estéril / componentes críticos.
• Electrónica (IPC-A-610): Inspección visual soldadura/componentes → criterios clase 1/2/3.
• Alimentación / Farmacéutico: Muestreo atributos (defectos visuales, peso, etiquetado) + variables (humedad, aw, potencia).