Renesas desarrolla MCU de 28 nm con funciones asistidas por virtualización

Renesas Electronics anunció el desarrollo y la verificación de la operación exitosa de un chip de prueba automotriz como un trampolín tecnológico hacia la realización de MCU flash de control automotriz de próxima generación que emplean un proceso de baja potencia de 28 nm.

El microcontrolador presenta cuatro CPU de 600MHz con un mecanismo de paso de bloqueo y una gran capacidad de memoria flash de 16 MB, así como funciones asistidas por virtualización que permiten la virtualización de MCU:esta tecnología permite que múltiples componentes de software se ejecuten en una sola MCU sin interferir entre sí. satisfaciendo así los requisitos de ASIL D, el nivel más alto de integridad de seguridad automotriz especificado bajo la norma de seguridad funcional ISO 26262 para vehículos de carretera. La funcionalidad mejorada de autoprueba incorporada (BIST) para la detección de fallas de autodiagnóstico de MCU es necesaria para implementar ASIL D, gracias a una función BIST de reanudación en espera recientemente desarrollada (SR-BIST) que se ejecuta durante el período de reanudación en espera . La MCU también presenta una funcionalidad de red mejorada, incluida una interfaz Gigabit Ethernet para la transferencia de alta velocidad de información del sensor.

Renesas presentará los resultados de la prueba en la sesión, "Un microcontrolador flash automotriz de 28nm 600MHz con procesador asistido por virtualización para arquitectura automotriz de próxima generación que cumple con ISO26262 ASIL D", el 18 de febrero en la Conferencia Internacional de Circuitos de Estado Sólido 2019.

Basado en las tecnologías verificadas en el chip de prueba, Renesas planea desarrollar agresivamente nuevas MCU flash de 28 nm y continuar su compromiso de habilitar una nueva generación de autos de conducción autónoma y ecológicos y ayudar a lograr una experiencia de conducción más segura.